Поделиться

Японская исследовательская группа, в которую вошли специалисты из компаний Hitachi High-Technologies, Eizo Nanao, а так же из университетов городов Ниигата и Шидзуока (Niigata University, Shizuoka University) разработала сканирующий электронный микроскоп (SEM) нового типа. По сообщению Японского научно-технологического Агентства (Japan Science and Technology Agency, JST),  новый микроскоп способен формировать стереоскопическое изображение «рассматриваемого» объекта на экране монитора в режиме реального времени.

Примерно с начала 30-х годов прошлого столетия ученый мир получил возможность получать многократно увеличенные изображения объектов, сформированные пучками электронов. Так, вместо оптического микроскопа стали применять электронный. И пусть тогда это была лишь трансмиссионная микроскопия, но значительно превосходящее разрешение электронного микроскопа в сравнении со световым микроскопом позволило совершить множество открытий в биологии, научных исследованиях и промышленности.  Значительно позже появилась возможность рассматривать получаемые увеличенные изображения объектов в объеме.

Прогрессивная сканирующая микроскопия подарила ученым такие инструменты как 3D-метрология, получение микрохарактеристик 2D и 3D, а также 3D-изображения тканей. Однако требовалось определенное время для формирования качественной 3D-картинки исследуемого объекта. Рассматривать объект в режиме реального времени не позволяли технические проблемы. Например, для создания стереопары приходилось синтезировать исходящее изображение эквивалентно изображениям для правого и левого глаза с целью получения параллакса. Разумеется, делалось это под разными углами освещения электронами объекта.

 

Создан Real Time 3D-электронный микроскоп

 

Принцип нового решения заключается в том, что при сканировании пучком электронов поверхности объекта происходит очень быстрое изменение угла сканирования. Именно это нововведение позволяет в конечном итоге получать стереоскопический параллакс. В частности, угол конвергенции удается изменять при помощи электромагнитной линзы. Однако у данного метода обнаружился недостаток, заключающийся в снижении разрешения получаемого 3D-изображения. Исследовательская группа решила эту проблему путем внедрения специальной оптико-электронной системы и модуля управления для сканирования пучком электронов необходимого объекта. В итоге удалось добиться высокой скорости сканирования — 33 мс для формирования одного 3D-кадра.

 

Создан Real Time 3D-электронный микроскоп

 

В ходе испытаний новой установки, ученые использовали проверенный временем 23-дюймовый «безочковый» монитор от Eizo Nanao — DuraVision FDF2301-3D.

Ссылки по теме: